Chemometric characterization of retention of some popular pesticides on thin layers of silica and other adsorbents. Part III.
Opis bibliograficzny
Chemometric characterization of retention of some popular pesticides on thin layers of silica and other adsorbents. Part III. [AUT.] T[OMASZ] TUZIMSKI, E[DWARD] SOCZEWIŃSKI. W: Proceedings of the International Symposium on Planar Separations: Planar Chromatrography 2000, Lillafüred, 24-26 June 2000. Ed. by Sz. Nyiredy s. 355-356, bibliogr.
Skopiowane!
Szczegóły publikacji
Źródło:
Proceedings of the International Symposium on Planar Separations: Planar Chromatrography 2000, Lillafüred, 24-26 June 2000. Ed. by Sz. Nyiredy, s. 355-356, bibliogr.
Rok: 2000
Język: angielski
Charakter formalny: Streszczenie zjazdowe konferencji międzynarodowej
Typ MNiSW/MEiN: inne
Identyfikatory
BPP ID: (29, 11193) wydawnictwo zwarte #11193
Metryki
0
Punkty MNiSW/MEiN
0
Impact Factor
0
Punktacja wewnętrzna
Eksport cytowania
Wsparcie dla menedżerów bibliografii:
Ta strona wspiera automatyczny import do Zotero, Mendeley i EndNote. Użytkownicy z zainstalowanym rozszerzeniem przeglądarki mogą zapisać tę publikację jednym kliknięciem - ikona pojawi się automatycznie w pasku narzędzi przeglądarki.
Informacje dodatkowe
| Rekord utworzony: | 6 kwietnia 2001 11:48 |
|---|---|
| Ostatnia aktualizacja: | 28 maja 2018 23:06 |