Thin-layer-chromatographic analysis of phenolic acids fraction occurring in Silphium perfoliatum L. leaves, inflorescences and rhizomes.

AUT. RADOSŁAW KOWALSKI, TADEUSZ WOLSKI.

Opis bibliograficzny

Thin-layer-chromatographic analysis of phenolic acids fraction occurring in Silphium perfoliatum L. leaves, inflorescences and rhizomes. [AUT.] RADOSŁAW KOWALSKI, TADEUSZ WOLSKI. W: 3rd International Symposium on Chromatography of Natural Products: The application of chromatographic methods in phytochemical & biomedical analysis. Lublin - Kazimierz Dolny, June 12-15, 2002. Abstr s. 102.
Skopiowane!
Kliknij opis aby skopiować do schowka

Szczegóły publikacji

Źródło:
3rd International Symposium on Chromatography of Natural Products: The application of chromatographic methods in phytochemical & biomedical analysis. Lublin - Kazimierz Dolny, June 12-15, 2002. Abstr, s. 102.
Rok: 2002
Język: angielski
Charakter formalny: Polskie streszczenie zjazdowe
Typ MNiSW/MEiN: inne

Identyfikatory

BPP ID: (29, 23172) wydawnictwo zwarte #23172

Metryki

0
Punkty MNiSW/MEiN
0
Impact Factor
0
Punktacja wewnętrzna

Eksport cytowania

Wsparcie dla menedżerów bibliografii:
Ta strona wspiera automatyczny import do Zotero, Mendeley i EndNote. Użytkownicy z zainstalowanym rozszerzeniem przeglądarki mogą zapisać tę publikację jednym kliknięciem - ikona pojawi się automatycznie w pasku narzędzi przeglądarki.

Skopiowane!

Informacje dodatkowe

Rekord utworzony:16 kwietnia 2003 16:24
Ostatnia aktualizacja:28 maja 2018 23:05